[发明专利]室清洁和半导体蚀刻气体有效
申请号: | 201480076636.2 | 申请日: | 2014-12-22 |
公开(公告)号: | CN106414798B | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 彭晟;G.罗;大﨑善政 | 申请(专利权)人: | 科慕埃弗西有限公司 |
主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44;C23G5/00;C09K13/00;H01L21/311;H01L21/3213 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 周齐宏;李炳爱 |
地址: | 美国特*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及可用作气体的氟烯烃组合物,所述气体用于CVD半导体制造,具体地讲用于蚀刻应用,包括通过使用活化的气体混合物从化学气相沉积室的内部清除表面沉积物的方法,以及蚀刻半导体的表面的方法。 | ||
搜索关键词: | 清洁 半导体 蚀刻 气体 | ||
【主权项】:
一种蚀刻气体混合物,包含至少一种氟烯烃和氧气,其中所述氢氟烯烃选自CHF=CF2、Z‑CF3‑CF=CHF、Z‑CF3‑CF=CHF、CF3‑CH=CF2、CF3‑CF=CH2、CF3‑CH=CHF、CF2=CH‑CHF、CF2=CF‑CF3、Z‑CF3‑CH=CH‑CF3、E‑CF3‑CH=CHCF3、CF3‑CF2‑CH=CHF、CF3‑CF2‑CH=CHF、CH2=CF‑CF2‑CF3、CHF2‑CF=CF‑CHF2、Z‑CF3‑CF=CF‑CF3、E‑CF3‑CF=CF‑CF3、CF3‑CF=CH‑CF3、CF3‑CF=CH‑CF3、CHF=CF‑CF2‑CF3、CHF=CF‑CF2‑CF3、CF2=CF‑CHF‑CF3、CF2=CF‑CF=CF2、CHF=C(CF3)2、CF2=C(CF3)(CHF2)、CF2=CH‑CH2‑CF3、CH2=CF‑CF2‑CHF2、CF2=CF‑CHF‑CH2F、CF2=CFCH2CHF2、CHF=CF‑CHF‑CHF2、CHF2‑CF=CH‑CHF2、CHF2‑CF=CF‑CH2F、CHF2‑CF=CF‑CH2F、CHF2‑CH=CF‑CHF2、CHF2‑CH=CF‑CHF2,以及CF3C≡CCF3、CHC1=CH‑CF3。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
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