[发明专利]基于辐射率的温度确定有效
申请号: | 201480076295.9 | 申请日: | 2014-05-30 |
公开(公告)号: | CN106061714B | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 大卫·H·多诺万 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | B29C64/393 | 分类号: | B29C64/393;B33Y50/02 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 郭艳芳;王琦 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种增材制造系统可以包括:控制器,用于基于测量到的、构造材料的层的一部分的光学属性或者基于表示该部分的预期固化程度的物体设计数据,来确定该部分的辐射率。该控制器可以基于确定出的辐射率以及测量到的由该部分发射的辐射分布,来确定该部分的温度。 | ||
搜索关键词: | 基于 辐射 温度 确定 | ||
【主权项】:
1.一种增材制造系统,包括:控制器,用于:基于测量到的、构造材料的层的一部分的光学属性或者基于表示所述一部分的预期固化程度的物体设计数据,来确定所述一部分的辐射率;以及基于所确定的辐射率和测量到的由所述一部分发射的辐射分布,来确定所述一部分的温度;其中所述一部分可以包括固化部分和未固化部分,其中确定所述一部分的辐射率包括:基于测量到的、所述固化部分的光学属性或者基于表示所述固化部分将被固化的物体设计数据,来确定所述固化部分的固化辐射率;以及基于测量到的、所述未固化部分的光学属性或者基于表示所述未固化部分将不被固化的物体设计数据,来确定所述未固化部分的未固化辐射率。
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