[发明专利]气体分析装置和用于进行气体分析的方法

摘要

本发明涉及一种气体分析装置(1)，其至少具有离子迁移谱测定仪(2)，其特征在于，气体分析装置(1)具有对离子迁移谱测定仪(2)的反应室(5)产生作用的能量馈送装置(50)，其被配置用于通过能量馈送操控反应室(5)中的自由反应离子的密度。本发明还涉及借助气体分析装置根据离子迁移谱测定法进行气体分析的方法。

主权项

1.一种气体分析装置(1)，其至少具有以下部件：a)离子迁移谱测定仪(2)，b)对离子迁移谱测定仪(2)的反应室(5)产生作用的能量馈送装置，其被配置用于通过能量馈送操控反应室(5)中的自由反应离子的密度，c)作为能量馈送装置的第一场产生装置(50,51,52,53)，其被配置用于在反应室(5)中产生电场，d)与离子迁移谱测定仪(2)的反应室(5)耦合的负压产生装置(11)，其被配置用于至少在反应室(5)中相对于大气压产生负压，e)其中，通过负压产生装置(11)在反应室(5)中产生2毫巴至100毫巴绝对压力范围内的负压，以及f)其中，通过第一场产生装置(50,51,52,53)在反应室(5)中产生电场的场强，在该场强下在给定的负压下由于由此减小的粒子密度，反应室中的粒子由于电场进行的能量馈送而在两次撞击之间加速，使得从其不希望的键合对象释放希望的自由反应离子，和/或完全或者部分地抑制希望的反应离子与不希望的键合对象的键合，g)其中，自由反应离子从与其键合的水分子或者其它不期望的键合对象释放。