[发明专利]料位测量装置及其用途和表面拓扑测定方法

摘要

本发明涉及一种用于测定填充材料表面的拓扑的料位测量装置，且料位测量装置包括可旋转天线单元。天线单元包括高频及信号处理单元，且高频及信号处理单元能够产生测量信号并至少部分地处理所接收的信号。通过一个或多个滑动接触部或者一个或多个线圈对向所述天线单元供应电能。也通过所述滑动接触部或者所述线圈对进行数据交换。

主权项

1.一种用于测定填充材料或散装材料的表面的拓扑的料位测量装置(201)，其包括：可旋转天线单元(204)，其包括：多个辐射器元件的阵列，其用于朝向填充材料表面发射测量信号和/或接收从所述填充材料表面反射的所述测量信号；及高频及信号处理单元(209)，其用于产生所述测量信号，并用于至少部分地处理所接收的被反射的所述测量信号；供电及通信单元(205)，其经由滑动接触部(207)或线圈对(303，305)耦接至所述高频及信号处理单元，以便向所述高频及信号处理单元供应测量操作所需的电能，其中，所述高频及信号处理单元(209)被集成在所述天线单元(204)中。