[发明专利]Cu球、Cu芯球、钎焊接头、焊膏和成形焊料有效
申请号: | 201480074929.7 | 申请日: | 2014-02-04 |
公开(公告)号: | CN106029260B | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 川崎浩由;六本木贵弘;相马大辅;佐藤勇 | 申请(专利权)人: | 千住金属工业株式会社 |
主分类号: | B22F1/00 | 分类号: | B22F1/00;B22F1/02;B23K35/14;B23K35/22;B23K35/30;C22B15/14;C22C9/00;C22F1/00;C22F1/08;C25D7/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供耐落下冲击强且能够抑制接合不良等产生的Cu球、Cu芯球、钎焊接头、焊膏和成形焊料。电子部件(60)是通过用焊膏(12)、(42)接合半导体芯片(10)的焊料凸块(30)和印刷基板(40)的电极(41)而构成的。焊料凸块(30)是通过在半导体芯片(10)的电极(11)上接合Cu球(20)而形成的。本发明的Cu球(20)的纯度为99.9%以上且99.995%以下,球形度为0.95以上,维氏硬度为20HV以上且60HV以下。 | ||
搜索关键词: | cu 芯球 钎焊 接头 成形 焊料 | ||
【主权项】:
1.一种Cu球,其纯度为99.9%以上且99.995%以下,球形度为0.95以上,维氏硬度为20HV以上且60HV以下,U的含量为5ppb以下,Th的含量为5ppb以下,所述Cu球含有Pb和Bi中的至少任一者,在含有Pb的情况下其含量为1ppm以上且不包括1ppm,在含有Bi的情况下其含量为1ppm以上且不包括1ppm,α射线量为0.0200cph/cm2 以下。
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