[发明专利]辐射检测器和使用辐射检测器的计算机断层扫描设备有效
| 申请号： | 201480072945.2 | 申请日： | 2014-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN105899137B | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | 赵敏局 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G01T1/161;A61B6/12 |
| 代理公司： | 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 于翔;曾世骁 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 公开了一种辐射检测器以及使用辐射检测器的断层扫描成像设备。所述辐射检测器包括：多个图像像素，均包括至少一个计数像素并恢复图像。所述至少一个计数像素包括：辐射吸收层，将入射光子转换为电信号；光子处理器，基于从辐射吸收层传送的电信号对光子的数量进行计数。所述图像像素的数量小于所述计数像素的数量。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 检测器 使用 计算机 断层 扫描 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于产生图像的辐射检测器，感测辐射的所述检测器包括多个像素，所述多个像素的每个像素包括多个计数像素，/n其中，所述多个计数像素的每个计数像素包括：/n辐射吸收层，将入射在所述多个计数像素的相应的计数像素上的入射光子转换为电信号；以及/n光子处理器，基于从辐射吸收层传送的电信号对光子的数量进行计数，并且/n其中，/n当计数像素群组包括至少一个计数像素时：/n光子处理器被配置为针对所述多个计数像素的每个计数像素单独地执行光子计数操作和光子数量存储操作，/n由包括在计数像素群组中的所述至少一个计数像素计数的光子的数量被用于计算所述图像中的一个像素值，并且/n包括在所述检测器中的计数像素群组的数量小于包括在所述检测器中的多个计数像素的数量。/n
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