[发明专利]X射线检测器、X射线成像设备及其控制方法有效
| 申请号： | 201480072454.8 | 申请日： | 2014-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN105899134B | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 金明济 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01T1/161 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 金光军;姜长星 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | X射线成像设备可包括：至少一个X射线检测器，包括被构造为存储ID信息的存储单元和和安装位置检测单元；至少一个安装单元，X射线检测器安装在所述至少一个安装单元中；控制单元，被构造为基于ID信息和安装位置检测单元的输出值来确定所述至少一个X射线检测器中的哪个X射线检测器被安装在所述至少一个安装单元中的哪个安装单元中。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测器 成像 设备 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线检测器，所述X射线检测器能够可拆卸地安装在安装单元中，所述检测器包括：存储单元，被构造为存储X射线检测器的ID信息；检测单元，被构造为检测X射线检测器的安装位置，其中，所述检测单元包括用于检测由安装在所述安装单元中的磁体形成的磁场方向的至少一个磁传感器。
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