[发明专利]集成的测试和处理机构

摘要

一种集成的测试和处理器机构，包括输入/输出模块，其包括：输入区段、输出区段、包括多个拾取头的转台，以及构造成使载体从构件加载位置移动至测试模块转移位置的梭；以及测试模块，其包括：包括多个测试插口的阵列的测试头、构造成在载体处于推入部上时将由载体保持的构件推入测试插口中的推入部，以及旋转台，其包括围绕旋转台旋转的多个抓爪，旋转台构造成(i)在测试模块转移位置与输入/输出模块转移位置之间转移载体，(ii)使载体在输入/输出模块转移位置与推入部转移位置之间旋转，以及(iii)在推入部转移位置与推入部之间转移载体。

主权项

1.一种集成的测试和处理器机构(100, 200, 300, 400, 500)，包括：/n测试模块(101)，其包括：/n多个载体(3)，各个所述载体构造成保持多个构件；/n接触器阵列(420)，其包括多个测试插口的阵列，以及/n推入部(29)，其构造成在所述载体位于所述推入部上时将由所述载体保持的所述构件推入所述测试插口中；以及/n输入/输出模块(102)，包括：/n输入区段(5)，/n输出区段(6)，/n输入梭组件(8)，/n输出梭组件(7)，/n转台(415, 520)，其构造成：(i)将待测试的构件从所述输入区段(5)移动至所述输入梭组件(8)；以及(ii)将经测试的构件从所述输出梭组件(7)移动至所述输出区段(6)，/n其特征在于，所述集成的测试和处理器机构还包括，/n第一拾取和放置装置(4a)，其构造成使待测试的一排构件从所述输入梭组件(8)移动至至少一个所述载体(3)，以及/n第二拾取和放置装置(4b)，其构造成使经测试的一排构件从至少一个所述载体(3)移动至所述输出梭组件(7)，/n其中所述输入梭组件(8)包括一个或多个梭(32)，其中各个梭均可在其可从所述转台(415, 520)收纳构件的位置与所述第一拾取和放置装置(4a)可从所述梭(32)拾取装置的位置之间移动，以及所述输出梭组件(7)包括一个或多个梭(32)，其中各个梭可在所述第二拾取和放置装置(4b)可将经测试的装置放置在所述梭(32)上的位置与所述转台(415,520)可从所述梭(32)除去经测试的构件的位置之间移动。/n