[发明专利]光学成像系统及使用其的方法有效

专利信息
申请号: 201480062082.0 申请日: 2014-11-10
公开(公告)号: CN105899936B 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 斯科特·伯恩海默;爱德华·戈德堡 申请(专利权)人: 贝克顿·迪金森公司
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/59;G01N35/00
代理公司: 11343 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 尚志峰;汪海屏
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明的公开内容的方面包括用于测定样品以分析分析物的方法和系统。根据某些实施方案的方法包括使用狭缝形状的光的光束照亮样品,检测透射经过样品的光,确定在一个或多个波长的被透射的光的吸光度以及基于该吸光度计算分析物的浓度以测定样品以分析分析物。还描述了用于实践主题方法的系统。
搜索关键词: 包括 学部 成像 分析 系统 及其 使用方法
【主权项】:
1.一种测定样品以分析分析物的方法,所述方法包括:/n使用光源经过狭缝投射模块照亮在样品室中的样品,以提供在所述样品室上的狭缝形状的光束,其中所述狭缝投射模块包括:/n狭缝,其把来自光源的光的光束窄化至等于所述狭缝的宽度的宽度;和/n聚焦透镜,其聚焦来自所述狭缝的光;/n通过检测器检测透射经过所述样品的光,其中来自所述样品的所述光经过物镜镜头、衍射光栅并直接传递到所述检测器,/n其中所述光源、所述狭缝投射模块、所述物镜镜头、所述衍射光栅和所述检测器以“在线”配置定位,以使来自所述光源的光沿光轴传递通过所述狭缝和所述聚焦透镜,并透射通过所述样品、所述物镜镜头、以及所述衍射光栅直接透射到所述检测器;以及/n在一个或多个波长计算检测到的光的吸光度,以测定所述样品以分析所述样品中的所述分析物。/n
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