[发明专利]对样本成像的方法有效
| 申请号： | 201480055638.3 | 申请日： | 2014-10-07 |
| 公开（公告）号： | CN105637348B | 公开（公告）日： | 2018-07-17 |
| 发明（设计）人： | S·W·黑尔 | 申请（专利权）人： | 马克思-普朗克科学促进协会 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N15/10 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 陈松涛;韩宏 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种测量样本(3)的方法，所述方法包括以下步骤：(ⅰ)提供第一组分的光；(ⅱ)从由在受到第一组分的光(4)的照射时被驱使以发射光子的微粒构成的组中选择微粒(2)；(ⅲ)形成第一组分的光以提供包括空间受限最小值(19)的光强度分布；(ⅳ)将光强度分布施加到样本上，以使得微粒位于光强度分布的空间受限最小值中；(ⅴ)检测由微粒发射的光子；利用光强度分布的最小值来跟踪微粒的运动，通过：(ⅵ)相对于样本移动光强度分布以使得由微粒发射的光子的速率保持最小，以及(ⅶ)将样本中光强度分布的最小值的实际位置作为样本中微粒的实际位置。为了对样本进行成像，所述方法还包括以下步骤：(ⅷ)针对样本的多个部分中的每个部分，确定微粒的驻留时间；以及(ⅸ)对样本上的驻留时间的分布进行绘图。 | ||
| 搜索关键词： | 光强度分布 样本 光子 空间受限 实际位置 驻留 发射 测量样本 速率保持 样本成像 样本移动 成像 绘图 照射 施加 跟踪 检测 | ||
【主权项】：
1.一种对样本成像的方法，所述方法包括以下步骤：提供第一组分的光；从由在受到所述第一组分的所述光的照射时被驱使以发射光子的微粒构成的组中选择微粒；形成所述第一组分的所述光以提供包括有空间受限最小值的光强度分布；将所述光强度分布施加到所述样本，以使得所述微粒位于所述光强度分布的所述空间受限最小值中；检测由所述微粒发射的光子；以及通过以下方式利用所述光强度分布的所述最小值来跟踪所述微粒的运动：相对于所述样本移动所述光强度分布，以使得由所述微粒发射的所述光子的速率保持最小，以及将在所述样本中的所述光强度分布的所述最小值的实际位置作为所述样本中的所述微粒的实际位置；所述方法的特征在于以下步骤：针对所述样本的多个部分中的每个部分，确定所述微粒的驻留时间；以及对所述样本上的所述驻留时间的分布进行绘图。
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