[发明专利]半导体发光元件及其制造方法有效
| 申请号: | 201480044676.9 | 申请日: | 2014-08-01 |
| 公开(公告)号: | CN105453279B | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
| 发明(设计)人: | 赤木孝信;斋藤龙舞 | 申请(专利权)人: | 斯坦雷电气株式会社 |
| 主分类号: | H01L33/22 | 分类号: | H01L33/22;H01L33/32 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 吕俊刚;杨薇 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明包括以下步骤:在半导体结构层的表面上形成基于半导体结构层的表面的晶体方向布置的易蚀刻部分的步骤;以及对半导体结构层的表面进行湿蚀刻并且在半导体结构层的表面上形成包括由于半导体结构层的晶体结构导致的多个突起的凹凸结构面的步骤。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体结构层 半导体发光元件 蚀刻 凹凸结构 晶体方向 晶体结构 湿蚀刻 突起 制造 | ||
【主权项】:
1.一种包括具有六方晶系的晶体结构的半导体结构层的半导体发光元件的制造方法,该制造方法包括以下步骤:在所述半导体结构层的C‑面上形成基于所述半导体结构层的所述C‑面的晶体方向配置的易蚀刻部分;以及对所述半导体结构层的所述C‑面进行湿蚀刻,在所述半导体结构层的所述C‑面上形成包括由于所述半导体结构层的晶体结构导致的多个突起的凹凸结构面,其中,每个所述易蚀刻部分具有比所述C‑面的其余部分的湿蚀刻速率大的湿蚀刻速率,以及其中,当通过第一直线组、第二直线组和第三直线组将所述C‑面细分为包括等边三角形格子的网格状时,所述易蚀刻部分形成在所述等边三角形格子的各个中心处,所述第一直线组包括与所述半导体结构层的所述C‑面的晶体方向中的[11‑20]方向平行且等间隔排列的多条直线,所述第二直线组包括与[2‑1‑10]方向平行且以与所述第一直线组相同的间隔排列的多条直线,所述第三直线组包括与[1‑210]方向平行且以与所述第一直线组和所述第二直线组相同的间隔排列的多条直线。
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