[发明专利]超高分子量聚乙烯颗粒和由其形成的成型体有效

专利信息
申请号: 201480039354.5 申请日: 2014-07-07
公开(公告)号: CN105377909B 公开(公告)日: 2018-04-03
发明(设计)人: 稻富敬;长谷川彩树;阿部成彦 申请(专利权)人: 东曹株式会社
主分类号: C08F10/02 分类号: C08F10/02
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇,李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供一种熔点高、显示出高结晶性的新型超高分子量聚乙烯颗粒,其能够提供机械强度高且耐热性、耐磨耗性优异的成型体。一种超高分子量聚乙烯颗粒,其满足(1)特性粘度(η)为15dL/g以上且60dL/g以下;(2)体积密度为130kg/m3以上且700kg/m3以下;(3)利用差示扫描量热仪(DSC)测定的第一次扫描的熔点(Tm1)与第二次扫描的熔点(Tm2)的差即ΔTm(ΔTm=Tm1‑Tm2)为11℃以上且30℃以下。
搜索关键词: 超高 分子量 聚乙烯 颗粒 形成 成型
【主权项】:
一种超高分子量聚乙烯颗粒,其特征在于,至少满足下述(1)~(5)所示的全部特性:(1)特性粘度η为20.8dL/g以上且60dL/g以下;(2)体积密度为130kg/m3以上且700kg/m3以下;(3)利用差示扫描量热仪(DSC),分别测定:以10℃/分钟的升温速度从0℃升温至230℃即第一次扫描时的第一次扫描的熔点Tm1,接着放置5分钟后,以10℃/分钟的降温速度降温至‑20℃,放置5分钟后,再次以10℃/分钟的升温速度从‑20℃升温至230℃即第二次扫描时的第二次扫描的熔点Tm2,Tm1与Tm2的差ΔTm=Tm1‑Tm2为11℃以上且30℃以下,(4)钛的含量小于0.2ppm,(5)分子量分布Mw/Mn大于3且小于6。
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