[发明专利]半导体闪烁探测器有效
| 申请号: | 201480036940.4 | 申请日: | 2014-06-26 | 
| 公开(公告)号: | CN105339810B | 公开(公告)日: | 2019-02-01 | 
| 发明(设计)人: | H·K·维乔雷克;C·R·龙达;L·R·瓦伦贝格;M·E·梅辛;S·汉森;B·J·A·厄赫斯特兰德;A·H·C·林德贝格;N·G·艾琳;R·T·哈尔贝格 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 | 
| 主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24;G01T1/20;G01T1/29 | 
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 李光颖;王英 | 
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL | 
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 | 
| 摘要: | 本发明涉及一种用于利用提高的计时准确度和提高的能量分辨率来探测伽马射线辐射量子或X射线辐射量子的辐射探测设备。所述辐射探测设备应用于对伽马射线辐射和X射线辐射的探测,并且可以被使用在PET成像的领域中,以及在谱CT中。所述辐射探测设备包括半导体闪烁体元件和光探测器。所述光探测器与所述闪烁体元件光学连通。所述闪烁体元件具有两个相互对立的面;阴极与这两个面中的一个电气连通,并且阳极与这两个面中的另一个电气连通。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 闪烁 探测器 | ||
【主权项】:
                1.一种用于探测伽马射线辐射量子或X射线辐射量子的辐射探测设备(20、30、40、50、60、70、80),包括:半导体闪烁体元件(21),其具有两个相互对立的面(23、24);至少一个光探测器(22),其与所述闪烁体元件(21)光学连通;其中,所述至少一个光探测器(22)具有光探测器电输出部,所述光探测器电输出部被配置为在所述光探测器电输出部处生成第一电信号,所述第一电信号指示对探测到的伽马射线辐射量子或X射线辐射量子的接收的时间;至少一个阴极(25),其与两个闪烁体元件面中的一个的至少部分电气连通;至少一个阳极(26),其与所述两个闪烁体元件面中的另一个的至少部分电气连通;其中,所述至少一个阴极(25)或所述至少一个阳极(26)中的至少一个被配置为生成第二电信号,所述第二电信号指示探测到的伽马射线辐射量子或X射线辐射量子的能量。
            
                    下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
                
                
            该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦有限公司,未经皇家飞利浦有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480036940.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。





