[发明专利]存储器装置及存储器操作方法有效

专利信息
申请号: 201480032104.9 申请日: 2014-06-09
公开(公告)号: CN105264611B 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 大塚涉;国广贵史;对马朋人;北川真;角野润 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G11C13/00 分类号: G11C13/00;G11C7/10
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 路勇
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明描述存储器装置及存储器操作方法。一个实例存储器系统包含共同导体及与所述共同导体耦合的多个存储器单元。所述存储器系统此外包含存取电路,所述存取电路经配置以在第一时刻与第二时刻之间的多个不同时刻将所述存储器单元的不同者提供到多个不同存储器状态中的一者中。所述存取电路经进一步配置以在所述第一时刻与所述第二时刻之间将所述共同导体维持在对应于所述一个存储器状态的电压电势处以将所述存储器单元提供到所述一个存储器状态中。
搜索关键词: 存储器 装置 操作方法
【主权项】:
1.一种存储器装置,其包括:布置成阵列的多个导电桥存储器单元,所述阵列包括X个存储器库,所述存储器库各自包括Y个瓦片,所述瓦片各自包括Z个子瓦片,其中所述Z个子瓦片中的每一者包括所述导电桥存储器单元中的N个导电桥存储器单元;Z个共同导体,其各自与所述Z个子瓦片中的一者及所述Z个子瓦片中的所述一者的所述N个导电桥存储器单元相关联;电路,其至少部分与所述阵列定位在一起以写入及读取位于跨越所述Z个子瓦片中的多个子瓦片定位的存储器单元的页中的所述导电桥存储器单元的存储器状态,其中所述存储器单元的页包括小于N个的导电桥存储器单元;其中所述X个存储器库中的每一者包括多个部分,所述多个部分包括所述Y个瓦片中的相应不同瓦片;且其中所述电路包括多个存取电路,其中所述多个存取电路中的每一者与所述多个部分的仅一部分相关联,并且其中所述多个存取电路中的每一者经配置以在单个擦除操作中擦除与所述Z个共同导体中的相应者相关联的所述N个导电桥存储器单元,其中X、Y、Z和N是正整数。
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