[发明专利]LEED检测模块和具有LEED检测模块的SEM有效

专利信息
申请号: 201480028221.8 申请日: 2014-05-14
公开(公告)号: CN105229772B 公开(公告)日: 2017-03-22
发明(设计)人: 新竹积 申请(专利权)人: 学校法人冲绳科学技术大学院大学学园
主分类号: H01J37/244 分类号: H01J37/244;G01N23/20;H01J37/295
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 吕俊刚,刘久亮
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种低能电子衍射(LEED)检测模块(100),其包括第一真空室,该第一真空室用于从样本(109)接收衍射电子;较大的第二真空室,该较大的第二真空室连接到第一真空室以接收已经通过第一真空室传输的衍射电子;二维电子检测器,该二维电子检测器设置在第二真空室中以检测衍射电子;电位屏蔽件(106),该电位屏蔽件(106)总体上沿着第一真空室的内表面和第二真空室的内表面设置;磁透镜(105),该磁透镜(105)扩展已经通过第一真空室朝向二维电子检测器传输的衍射电子束;以及总体上平面形的能量过滤器(103),该总体上平面形的能量过滤器(103)排斥具有比撞击在样本(109)上的探测电子束(203)能量低的电子。
搜索关键词: leed 检测 模块 具有 sem
【主权项】:
一种低能电子衍射LEED检测模块,该LEED检测模块包括:第一真空室,该第一真空室在一个端部具有用于从利用探测电子束照射的样本接收衍射电子的孔;第二真空室,该第二真空室在其一个端部连接到所述第一真空室,以接收已经通过所述第一真空室传输的所述衍射电子,所述第二真空室在垂直于所述衍射电子的行进方向的方向上的尺寸大于所述第一真空室的相应尺寸;二维电子检测器,该二维电子检测器设置在所述第二真空室中、在所述第二真空室的与连接到所述第一真空室的所述一个端部相反的端部处,以检测所述衍射电子;电位屏蔽件,该电位屏蔽件由总体上沿着所述第一真空室的内表面和所述第二真空室的内表面设置的导电材料制成,所述电位屏蔽件被构造成被施加第一加速电压,以使来自所述样本的所述衍射电子加速和汇聚;磁透镜,该磁透镜设置成与所述第一真空室连接到所述第二真空室的位置相邻,以扩展已经通过所述第一真空室朝向所述二维电子检测器传输的所述衍射电子的束;和总体上平面形的能量过滤器,该能量过滤器排斥具有比撞击在所述样本上的所述探测电子束能量低的电子,所述能量过滤器被设置成相对于所述电位屏蔽件具有间隙,并被构造成被施加第二加速电压,以使经所述磁透镜扩展的所述衍射电子的束准直。
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