[发明专利]伽马辐射探测设备有效
| 申请号： | 201480025697.6 | 申请日： | 2014-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN105190360B | 公开（公告）日： | 2019-06-28 |
| 发明（设计）人： | H·K·维乔雷克;C·R·龙达;J·G·博尔里坎普 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及伽马辐射探测设备(1)。所述伽马辐射探测设备(1)包括闪烁体元件(2)以及与所述闪烁体元件(2)光学连通的光学探测器(3)。多个颗粒或空隙(5)被散布在所述闪烁体元件(2)中，所述多个颗粒或空隙(5)散射所述闪烁光(7)，通过多重反射来减少对闪烁光(7)的俘获。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 探测 设备 | ||
【主权项】：
1.一种伽马辐射探测设备(1)，包括：闪烁体元件(2)，其具有陶瓷结构；与所述闪烁体元件(2)光学连通的光学探测器(3)；以及散布在所述闪烁体元件(2)中的宏观非晶格空间中的多个颗粒或空隙(5)，其中，所述颗粒或空隙(5)的平均体积直径在100纳米至1000纳米的范围内。
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