[发明专利]通过使用微波辐射测量设备内部中的沉积物的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201480022966.3 申请日: 2014-04-22
公开(公告)号: CN105190293A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: S·瓦格勒纳;I·亨尼希 申请(专利权)人: 巴斯夫欧洲公司
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 吴鹏;马江立
地址: 德国路*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种通过使用微波辐射测量设备(10)的内部(12)中的沉积物的方法,包括以下步骤:a)将至少一个微波谐振器(20)布置在设备(10)的内部(12)中,其中,微波谐振器(20)的内部(36)以一种可以进行物质交换的方式连接至设备(10)的内部(12),或将设备(10)的内部形成为至少一个微波谐振器(20),b)将微波辐射引入该至少一个微波谐振器(20)中,和c)确定该至少一个微波谐振器(20)的谐振频率和/或谐振品质,其中,重复步骤b)和c),从该至少一个微波谐振器(20)的谐振频率和/或谐振品质的变化得到设备(10)的内部(12)中的沉积物的量和/或类型。本发明还涉及一种用于执行该方法的装置。
搜索关键词: 通过 使用 微波 辐射 测量 设备 内部 中的 沉积物 方法 装置
【主权项】:
一种通过使用微波辐射测量设备(10)的内部(12)中的沉积物的方法,包括以下步骤:a.将至少一个微波谐振器(20)布置在设备(10)的内部(12)中,其中,微波谐振器(20)的内部(36)以能够进行物质交换的方式连接至设备(10)的内部(12);或将设备(10)的内部形成为至少一个微波谐振器(20),b.将微波辐射引入该至少一个微波谐振器(20)中,和c.确定该至少一个微波谐振器(20)的谐振频率和/或谐振品质,其中,重复步骤b)和c),从该至少一个微波谐振器(20)的谐振频率和/或谐振品质的变化得到设备(10)的内部(12)中的沉积物的量和/或类型。
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