[发明专利]用于测量玻璃片制造工艺的不对称性的方法在审

专利信息
申请号: 201480021367.X 申请日: 2014-02-19
公开(公告)号: CN105209854A 公开(公告)日: 2015-12-30
发明(设计)人: D·C·埃兰 申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;C03C21/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 徐鑫;项丹
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了用于测量玻璃片制造工艺的不对称性的方法。所述方法包括使得玻璃片或者取自玻璃片的测试样品经受离子交换过程并测量翘曲值。然后从翘曲值获得玻璃片制造工艺的不对称性的度量。在一个实施方式中,度量不依赖于玻璃片或测试样品的几何形貌(BM1度量),在另一个实施方式中,度量不依赖于玻璃片或测试样品的几何形貌并且基本不依赖于测试中所用的离子交换过程(ASYM度量)。
搜索关键词: 用于 测量 玻璃片 制造 工艺 对称性 方法
【主权项】:
1.一种用于测量玻璃片制造工艺的不对称性的方法,该方法包括:(I)采用玻璃片制造工艺生产玻璃片;(II)测量所述玻璃片或来自所述玻璃片的测试样品的质量M0;(III)使得所述玻璃片或者所述测试样品经受离子交换过程;(IV)测量作为步骤(III)的结果的所述玻璃片或所述测试样品的质量变化ΔM;(V)测量步骤(III)之后的所述玻璃片或所述测量样品的翘曲值W;以及(VI)采用如下形式的等式计算所述玻璃片或所述测试样品的ASYM值:W玻璃是在步骤(III)之前构成所述玻璃片或所述测试样品的玻璃的分子量,单位为g/mol;W和W分别是在步骤(III)中被交换进玻璃和交换出玻璃的离子的分子量,单位为g/mol,其单独记而不以氧化物记;R是所述玻璃片或所述测试样品的厚度-对角线之比;以及Lx、Ly和Lz分别是所述玻璃片或所述测试样品的长度、宽度和厚度,单位与翘曲值W的单位相同;步骤(VI)中计算的ASYM值是所述玻璃片制造工艺的不对称性尺度。
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