[发明专利]用于环境光条件下的光学测量的方法和设备在审

专利信息
申请号: 201480021248.4 申请日: 2014-02-14
公开(公告)号: CN105556262A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 曾海山;赵建华;苏文豪;T·A·布朗 申请(专利权)人: 曾海山
主分类号: G01J3/02 分类号: G01J3/02;A61B6/00;F21V33/00
代理公司: 北京嘉和天工知识产权代理事务所(普通合伙) 11269 代理人: 严慎
地址: 加拿大不列*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要: 公开了具有特别设计的环境照射系统的光谱学系统的实施例。所述环境照射系统包括提供400-785nm的波长的照射光的一个或更多个发光二极管(LED)。所述环境照射系统还可以包括阻挡高于785nm的光的滤光器。该滤光器可以被直接放置在LED发射器的前方。LED可以是白色LED或RGB LED。所述光谱学系统还可以包括控制系统,该控制系统在光谱测量开始时可以从光谱探头接收信号,并且可以瞬时发送信号以自动地关断环境照射系统,并且在光谱测量终止时从光谱探头接收信号以自动地接通环境照射系统。公开了操作所述光谱学系统和环境照射系统的方法的实施例。
搜索关键词: 用于 环境 条件下 光学 测量 方法 设备
【主权项】:
一种用于光谱测量被执行的区域的环境照射系统,所述环境照射系统包括:‑一个或更多个发光二极管(LED),所述一个或更多个LED在光谱测量期间在所述区域中产生环境光;以及‑控制系统,所述控制系统被配置为生成到所述一个或更多个LED的输出信号,使得在光谱测量期间所述一个或更多个LED被关闭。
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