[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201480011892.3 申请日: 2014-05-14
公开(公告)号: CN105190876B 公开(公告)日: 2018-04-13
发明(设计)人: 西田祐平;西泽龙男;田中才工 申请(专利权)人: 富士电机株式会社
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L21/60;H01L25/07;H01L25/18
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 金红莲
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种能够进行牢固的引线键合、量产性优异、小型且低成本的半导体装置及其制造方法。通过利用粘接树脂(8)来牢固地固定端子(15)的突出部(15e)的背面(15b)与框体(7)的内壁(7d),从而可利用引线(13)来对端子(15)与半导体芯片(11)进行牢固的引线键合,进而能够提供量产性优异且低成本的半导体装置及其制造方法。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,包括:框体,该框体具有在一个主面侧的内周配置成环状的第1阶梯部、在另一个主面侧的内周配置成环状的第2阶梯部、以及设置于所述第1阶梯部与所述第2阶梯部之间的内壁;从所述第1阶梯部导出至外部的端子;嵌合于所述第2阶梯部的电路基板;以及粘接树脂,该粘接树脂对所述第2阶梯部和所述电路基板进行粘接,并且与所述内壁及所述端子相接。
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