[发明专利]用于校准多个天线阵列的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201480010135.4 申请日: 2014-02-24
公开(公告)号: CN105075140B 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: R.W.门罗 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H04B17/11 分类号: H04B17/11;H04B17/12;H04B17/13;H04B17/21;H04B17/364;H04B7/04;H01Q3/26
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 邵亚丽,蔡军红
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种方法,包括向多个天线阵列发送校准命令。每个天线阵列包括多个天线元件、多个发送器和接收器信道以及包括校准接收器和校准发送器的校准电路。所述多个天线阵列彼此连接。该方法还包括对于每对连接的天线阵列,基于在该对连接的天线阵列中的校准接收器和校准发送器之间的时间延迟差和相位延迟差,校准连接的天线阵列的校准电路。另外,该方法包括使用经校准的校准电路来校准每个天线阵列的天线元件。
搜索关键词: 用于 校准 天线 阵列 方法 装置
【主权项】:
一种用于校准多个天线阵列的方法,包括:向多个天线阵列发送校准命令,每个天线阵列包括多个天线元件、多个发送器和接收器信道以及包括校准接收器和校准发送器的校准电路,所述多个天线阵列彼此连接;对于每对连接的天线阵列,基于在该对连接的天线阵列中的校准接收器和校准发送器之间的时间延迟差和相位延迟差,校准连接的天线阵列的校准电路;使用经校准的校准电路来校准每个天线阵列的多个天线元件;使用第一天线阵列中的经校准的校准电路来测量在多个天线阵列的第一个的发送器和接收器信道中的第一时间延迟;使用第二天线阵列中的经校准的校准电路来测量在多个天线阵列的第二个的发送器和接收器信道中的第二时间延迟;计算所述第一时间延迟和所述第二时间延迟之间的差;以及基于计算的差,调整所述第一天线阵列和所述第二天线阵列之一的信道。
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