[发明专利]单晶SiC基板的表面加工方法、其制造方法和单晶SiC基板的表面加工用磨削板有效

专利信息
申请号: 201480008414.7 申请日: 2014-02-13
公开(公告)号: CN104981324B 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 贵堂高德;加藤智久 申请(专利权)人: 昭和电工株式会社
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00;B24D3/00;C30B29/36;C30B33/00;H01L21/304
代理公司: 北京市中咨律师事务所11247 代理人: 刘航,段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种单晶SiC基板的表面加工方法,将磨削板安装于磨削装置上,通过所述磨削板产生氧化生成物,一边除去该氧化生成物一边进行表面的磨削,所述磨削板是在具有平坦面的基体件上依次贴附有软质垫、硬质垫的磨削板,在所述硬质垫的表面固定有磨粒,所述磨粒包含比单晶SiC软且具有带隙的至少1种以上的金属氧化物。
搜索关键词: sic 表面 加工 方法 制造 工用 磨削
【主权项】:
一种单晶SiC基板的表面加工方法,其特征在于,将磨削板安装于磨削装置上,通过所述磨削板产生氧化产物,一边除去该氧化产物一边进行表面的磨削,所述磨削板是在具有平坦面的基体件上依次贴附有软质垫、硬质垫的磨削板,在所述硬质垫的表面固定有磨粒,所述磨粒包含比单晶SiC软且具有带隙的至少1种金属氧化物,所述硬质垫被分片化。
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