[发明专利]一种电磁数据的保幅静校正方法

摘要

一种电磁数据的保幅静校正方法，采用以下步骤实现：1)根据工区采集的大地电磁数据，确定一个深度和电阻率稳定的电性层，得到电磁数据曲线上对应的频段，对频段上电磁数据测线上所有测点的两支视电阻率曲线做平均，计算平均视电阻率数据；2)求取各个测点两支曲线的初步校正因子；3)进行初步校正，得到校正后的两支视电阻率曲线数据和；4)重新选择一个频率段，按照步骤1)至3)分别计算出滤波前和滤波后各个测点两支曲线在该频段范围内视电阻率的算术或者几何平均值和；5)求取各个测点两支曲线的保幅校正因子；6)计算获得最终的保幅校正后两支曲线视电阻率数据和，完成静校正。

主权项

一种电磁数据的保幅静校正方法，其特征在于采用以下步骤实现：1)根据工区采集的大地电磁数据，确定一个深度和电阻率稳定的电性层，得到电磁数据曲线上对应的频段，对频段上电磁数据测线上所有测点的两支视电阻率曲线做平均，计算平均视电阻率数据所述的计算平均视电阻率数据是：其中，分别为第i个测点第j个频率f_j的XY和YX模式实测视电阻率值，n和m为选定的频点号；2)利用以下公式求取各个测点两支曲线的初步校正因子；$k_i^{\mathrm{XY}=}\log {\mathrm{\ρ}}_i^a-\log \frac{\underset{j=n}{\overset{m}{\mathrm{\Σ}}}{\mathrm{\ρ}}_i^{\mathrm{XY}}\left(f_j\right)}{m-n+1},k_i^{\mathrm{YX}=}\log {\mathrm{\ρ}}_i^a-\log \frac{\underset{j=n}{\overset{m}{\mathrm{\Σ}}}{\mathrm{\ρ}}_i^{\mathrm{YX}}\left(f_j\right)}{m-n+1}---\left(5\right)$其中，和分别为第i个测点XY和YX模式数据的初步校正因子，为由(4)式获得的计算平均值，其它参数的含义与(4)式相同。3)按照以下公式进行初步校正，得到校正后的两支视电阻率曲线数据和${\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{si}}^{\mathrm{XY}}=10**(\log {\mathrm{\ρ}}_i^{\mathrm{XY}}+k_i^{\mathrm{XY}}),{\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{si}}^{\mathrm{YX}}=10**(\log {\mathrm{\ρ}}_i^{\mathrm{YX}}+k_i^{\mathrm{YX}})---\left(6\right)$再对分别进行滤波，获得滤波后的视电阻率曲线数据和其它参数的含义与(4)、(5)式相同。4)重新选择一个频率段，按照步骤1)至3)分别计算出滤波前和滤波后各个测点两支曲线在该频段范围内视电阻率的算术或者几何平均值和${\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{si}}^{\mathrm{aXY}}=\frac{\underset{j=\mathrm{nf}1}{\overset{\mathrm{nf}2}{\mathrm{\Σ}}}{\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{si}}^{\mathrm{XY}}\left(f_j\right)}{\mathrm{nf}2-\mathrm{nf}1+1},{\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{si}}^{\mathrm{aYX}}=\frac{\underset{j=\mathrm{nf}1}{\overset{\mathrm{nf}2}{\mathrm{\Σ}}}{\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{si}}^{\mathrm{YX}}\left(f_j\right)}{\mathrm{nf}2-\mathrm{nf}1+1}---\left(7\right)$${\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{fsi}}^{\mathrm{aXY}}=\frac{\underset{j=\mathrm{nf}1}{\overset{\mathrm{nf}2}{\mathrm{\Σ}}}{\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{fsi}}^{\mathrm{XY}}\left(f_j\right)}{\mathrm{nf}2-\mathrm{nf}1+1},{\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{fsi}}^{\mathrm{aYX}}=\frac{\underset{j=\mathrm{nf}1}{\overset{\mathrm{nf}2}{\mathrm{\Σ}}}{\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{fsi}}^{\mathrm{YX}}\left(f_j\right)}{\mathrm{nf}2-\mathrm{nf}1+1}---\left(8\right)$其中，nf1和nf2分别为选定的频点号，分别为第si个测点第j个频率f_j的XY和YX模式实测视电阻率值，分别为计算的滤波前XY和YX模式的视电阻率算术或者几何平均值，和分别为计算的滤波后XY和YX模式的视电阻率算术或者几何平均值。5)按照以下公式求取各个测点两支曲线的保幅校正因子：$k_{\mathrm{fi}}^{\mathrm{XY}}=\log {\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{si}}^{\mathrm{aXY}}-\log {\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{fsi}}^{\mathrm{aXY}},k_{\mathrm{fi}}^{\mathrm{YX}}=\log {\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{si}}^{\mathrm{aYX}}-\log {\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{fsi}}^{\mathrm{aYX}}---\left(9\right)$其中，和分别为第i个测点的XY和YX曲线的保幅校正因子。6)按照以下公式计算获得最终的保幅校正后两支曲线视电阻率数据和完成静校正；${\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{psi}}^{\mathrm{XY}}=10**(\log {\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{si}}^{\mathrm{XY}}+k_{\mathrm{fi}}^{\mathrm{XY}}),{\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{psi}}^{\mathrm{YX}}=10**(\log {\mathrm{\ρ}}_{\mathrm{si}}^{\mathrm{YX}}+k_{\mathrm{fi}}^{\mathrm{YX}})---\left(10\right)$其中，和就是最终的XY和YX曲线的保幅校正后视电阻率数据。