[实用新型]X-射线荧光光谱分析仪及真空与样品腔隔离装置有效

专利信息
申请号: 201420799679.0 申请日: 2014-12-16
公开(公告)号: CN204462044U 公开(公告)日: 2015-07-08
发明(设计)人: 韩晓朋 申请(专利权)人: 韩晓朋
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 广州中浚雄杰知识产权代理有限责任公司 44254 代理人: 刘各慧
地址: 518000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种X-射线荧光光谱分析仪及真空与样品腔隔离装置,分析仪包括真空腔体座,真空腔体座内具有真空腔,在真空腔内设有样品杯;所述的样品杯包括杯体、杯盖及透光膜,杯体具有样品腔,杯体的底部具有与样品腔相通的通孔,透光膜设在杯体的通孔处,杯盖盖在杯体上,所述的样品腔形成密闭样品腔。真空腔与样品腔隔离装置包括真空腔及设在真空腔内的上述样品杯。利用该结构,能将真空腔与样品腔隔离,使得样品未处在真空环境中,有效的防止液态样品在真空中挥发及粉末样品在真空中出现悬浮的现象,提高分析的精确度。
搜索关键词: 射线 荧光 光谱分析 真空 样品 隔离 装置
【主权项】:
X‑射线荧光光谱分析仪,包括真空腔体座,真空腔体座内具有真空腔,其特征在于:在真空腔内设有样品杯;所述的样品杯包括杯体、杯盖及透光膜,杯体具有样品腔,杯体的底部具有与样品腔相通的通孔,透光膜设在杯体的通孔处,杯盖盖在杯体上,所述的样品腔形成密闭样品腔。
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