[实用新型]一维聚焦光学系统和气体中悬浮颗粒物的检测装置有效

专利信息
申请号: 201420719292.X 申请日: 2014-11-25
公开(公告)号: CN204287526U 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 邱欣周;刘国宁;郝鹏飞;张琼晋 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: G02B3/06 分类号: G02B3/06;G02B3/02;G02B19/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张大威
地址: 518118 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种一维聚焦光学系统和一种气体中悬浮颗粒物的检测装置,其中,所述系统包括:半导体激光源,半导体激光源用于发射激光束;以及与半导体激光源同轴设置的光学透镜,光学透镜用于将激光束导向至光敏区,其中,光学透镜具有光源面和出光面,光源面为旋转轴对称凸非球面,出光面为凸非球面柱面。本实用新型的一维聚焦光学系统,使得光敏区的光强分布趋于均匀,采用单个透镜实现半导体激光束的一维聚焦,减少了光学元件的数量,降低了成本,且在光学系统小型化的基础上增长光学透镜的后焦距,从而具有在纵向较长的光敏区,使得光学系统具有较好的装配允差。
搜索关键词: 聚焦 光学系统 气体 悬浮 颗粒 检测 装置
【主权项】:
一种一维聚焦光学系统,其特征在于,包括:半导体激光源,所述半导体激光源用于发射激光束;以及与所述半导体激光源同轴设置的光学透镜,所述光学透镜用于将所述激光束导向至光敏区,其中,所述光学透镜具有光源面和出光面,所述光源面为旋转轴对称凸非球面,所述出光面为凸非球面柱面。
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