[实用新型]一种可控硅测试器有效
| 申请号： | 201420700974.6 | 申请日： | 2014-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN204256115U | 公开（公告）日： | 2015-04-08 |
| 发明（设计）人： | 杨佳;王耀强 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业第六一八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 710000 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型属于电器元件测试器技术领域，特别涉及一种可控硅测试器。它包括一个电源和可控硅测试电路，其特征在于，将可控硅测试电路加装在电源适配器上。本实用新型实现了对可控硅测试器携带方便，测试简单，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可控硅 测试 | ||
【主权项】：
一种可控硅测试器，其特征为：所述的可控硅测试器包括互感器式电源适配器、电阻、单刀双掷开关(S1)、开关(S2)和发光二极管，在互感器式电源适配器与可控硅测试装置之间用(S1)开关连接，2号电阻(R2)与发光二极管(D3)串联后与3号电阻(R3)并联,电阻(R3)与开关(S2)串联，可控硅a极与发光二极管(D3)连接，G极与电阻R3连接，K极与电源负极相连。
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