[实用新型]超高频电子标签测试设备有效

专利信息
申请号: 201420560081.6 申请日: 2014-09-26
公开(公告)号: CN204116490U 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 许爱军 申请(专利权)人: 深圳市金瑞铭科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳市福田区深南路*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种超高频电子标签测试设备,包括输入输出设备,和依次连接的测试暗箱、射频连接馈线、衰减器及与所述输入输出设备连接的测试主机,所述测试暗箱内设有测试天线、吸波材料层以及测试面板,所述吸波材料层铺设于所述测试暗箱的内壁,所述射频连接馈线与所述测试天线通过射频接口连接。采用暗箱设计,屏蔽了外部电磁环境对测试标签的影响,在不影响测试结果的情况下,减小暗箱尺寸,大大提高了暗箱的移动性和便携性。采用测试主机一体化设计,减小测试设备之间信号的衰减和影响,提高测试设备测试精度;减少外围测试设备数量,降低测试设备成本。
搜索关键词: 超高频 电子标签 测试 设备
【主权项】:
一种超高频电子标签测试设备,包括输入输出设备,其特征在于,还包括依次连接的测试暗箱、射频连接馈线、衰减器及与所述输入输出设备连接的测试主机,所述测试暗箱内设有测试天线、吸波材料层以及测试面板,所述吸波材料层铺设于所述测试暗箱的内壁,所述射频连接馈线与所述测试天线通过射频接口连接。
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