[实用新型]一种模拟开关的高稳定性控制装置有效
| 申请号: | 201420557783.9 | 申请日: | 2014-09-26 |
| 公开(公告)号: | CN204117012U | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
| 发明(设计)人: | 金学成 | 申请(专利权)人: | 金学成 |
| 主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 |
| 代理公司: | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人: | 董芙蓉 |
| 地址: | 100020 北京市朝*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本实用新型涉及一种模拟开关的高稳定性控制装置,所述装置包括:模拟开关,用于提供低阻抗的导电通路;输入电源检测电路,用于检测输入模拟电源的数值高低;温度检测电路,用于检测硅片结点温度的数值高低;模拟开关的导通阻抗控制电路,用于实时地提供适当的模拟开关控制电压,以使模拟开关的导通阻抗保持恒定,运转稳定可靠;片上记忆单元,用于记录模拟开关控制电压参数。本实用新型的有益效果是模拟开关在环境改变时,智能地调整控制电压随之变化,以保证模拟开关导通阻抗稳定。本实用新型可以广泛应用于高性能信号通讯与功率传输。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 模拟 开关 稳定性 控制 装置 | ||
【主权项】:
一种模拟开关的高稳定性控制装置,其特征在于所述装置包括: 模拟开关,在控制电压的作用下用于提供低阻抗的导电通路;电源检测升压电路,用于检测输入电源的数值高低并智能地为闭环智能控制电路提供适当的、稳定的控制电源输入;检测电路,包含温度检测电路、硅片生产工艺的导通阻抗检测电路,产生可用于参考的静态与动态参数存储于记忆单元中;检测电路中的温度检测电路,用于检测硅片结点温度的数值高低并产生相应的参数;检测电路中的硅片生产工艺的导通阻抗检测电路,用于检测硅片生产工艺的导通阻抗偏差并产生相应的参数;闭环智能控制电路,用于依据基准稳定参考电压、电源检测升压电路产生的控制电源和记忆单元内的静态与动态参数实时地提供适当的模拟开关控制电压,以使模拟开关的导通阻抗保持恒定,运转稳定可靠;片上记忆单元,用于记录用于控制模拟开关的静态与动态参数并为闭环智能控制电路提供参考;闭环智能控制电路连接所述电源检测升压电路、片上记忆单元、以及模拟开关;所述片上记忆单元还与检测电路连接。
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