[实用新型]一种测量叶栅叶片表面静压的测量段有效
| 申请号： | 201420538569.9 | 申请日： | 2014-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN204126952U | 公开（公告）日： | 2015-01-28 |
| 发明（设计）人： | 马威;刘程远;滕金芳 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | F04D29/26 | 分类号： | F04D29/26 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 林君如 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种测量叶栅叶片表面静压的测量段，包括叶片及端壁，端壁有两个，平行套设在叶片上，叶片的展向长度大于两端壁间距离的两倍，在叶片上开设有静压孔，该静压孔通过与其相连接的管道从叶片的侧面穿出。与现有技术相比，本实用新型可以测量任意展向截面的叶栅叶片表面静压，丰富了测量数据，并且本实用新型减少了安装在叶片表面的压强孔数量以及相应的埋在叶片内部的管道的数量，从而减少了制造成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 叶片 表面 静压 | ||
【主权项】：
一种测量叶栅叶片表面静压的测量段，其特征在于，该测量段包括叶片及端壁，所述的端壁有两个，平行套设在叶片上，所述的叶片的展向长度大于两端壁间距离的两倍，在叶片上开设有静压孔，该静压孔通过与其相连接的管道从叶片的侧面穿出。
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