[实用新型]芯片自动测试装置有效
| 申请号： | 201420498970.4 | 申请日： | 2014-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN204044314U | 公开（公告）日： | 2014-12-24 |
| 发明（设计）人： | 舒慧君;周彦杰;王亦农 | 申请（专利权）人： | 上海海尔集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 潘彦君;骆苏华 |
| 地址： | 200235 上海市徐汇区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种芯片自动测试装置，所述装置包括：进料台，适于将多颗待测芯片一次性送入导轨；导轨，第一端与所述进料台连接，适于接收所述进料台一次性送入的多颗待测芯片，第二端与出料台连接，适于将经过测试的芯片输出；阻挡部件，固定在所述导轨的入口，适于阻挡所述多颗待测芯片在重力作用下的滑动；控制器，适于控制所述阻挡装置移动以阻挡或释放所述多颗待测芯片；测试台，与所述导轨连接，适于对所述多颗待测芯片进行测试；出料台，适于接收经过所述测试台测试的多颗芯片，根据测试结果，将所述经过测试的芯片分类输出。采用所述芯片自动测试装置，可以缩短芯片的测试时间，提高芯片的测试产出效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 自动 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片自动测试装置，其特征在于，包括：进料台，适于将多颗待测芯片一次性送入导轨；导轨，第一端与所述进料台连接，适于接收所述进料台一次性送入的多颗待测芯片，第二端与出料台连接，适于将经过测试的芯片输出，其中，所述进料台的水平高度高于所述出料台的水平高度；阻挡部件，固定在所述导轨的入口，适于阻挡所述多颗待测芯片在重力作用下的滑动；控制器，通过驱动部件与所述阻挡部件电连接，适于控制所述阻挡装置移动以阻挡或释放所述多颗待测芯片；测试台，与所述导轨连接，适于当所述阻挡装置释放所述多颗待测芯片时，接收所述多颗待测芯片，并对所述多颗待测芯片进行测试；出料台，适于接收经过所述测试台测试的多颗芯片，根据测试结果，将所述经过测试的芯片分类输出。
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