[实用新型]一种在位表面形貌检测工作台有效
申请号: | 201420481477.1 | 申请日: | 2014-08-25 |
公开(公告)号: | CN204085464U | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
发明(设计)人: | 崔长彩;陈俊英;陈伟鹏;李兵;余卿 | 申请(专利权)人: | 华侨大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 泉州市文华专利代理有限公司 35205 | 代理人: | 陈智海 |
地址: | 362000 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种在位表面形貌检测工作台,包括机座和显微镜,机座包括下底板和上框体,上框体为其上端呈开口状的中空框体,上框体以可下底板的前后方向平移滑动的方式架设在下底板的上表面上方,下底板的前侧或后侧设有控制上框体前后滑行的X轴平移驱动装置,上框体的上端端面上架设有可沿上框体左右平移的放置平台,且上框体内设有控制放置平台左右移动的Y轴平移驱动装置,放置平台上竖设有安装立柱,安装立柱上设有可上下移动的安装块,显微镜安装在上述安装块上,安装立柱上安装有控制安装块上下移动的Z轴升降驱动装置。本实用新型的有益效果:其可实现在位和线下测量,适用范围广,并具有整体结构简单、合理、紧凑的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 在位 表面 形貌 检测 工作台 | ||
【主权项】:
一种在位表面形貌检测工作台,包括机座和显微镜,其特征在于:上述机座包括下底板和上框体,上述上框体为其上端呈开口状的中空框体,上述上框体以可沿下底板的前后方向平移滑动的方式架设在上述下底板的上表面上方,上述下底板的前侧或后侧设有控制上框体前后滑行的X轴平移驱动装置,上述上框体的上端端面上架设有可沿上框体左右平移的放置平台,且上述上框体内设有控制放置平台左右移动的Y轴平移驱动装置,上述放置平台上竖设有安装立柱,上述安装立柱上设有可上下移动的安装块,上述显微镜安装在上述安装块上,上述安装立柱上安装有控制安装块上下移动的Z轴升降驱动装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华侨大学,未经华侨大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201420481477.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种圆柱外螺纹中径直接测量仪
- 下一篇:基于激光测距传感器的药盒高度测量装置