[实用新型]一种带有升降平台的电路板光学检测设备有效
| 申请号: | 201420470110.X | 申请日: | 2014-08-20 |
| 公开(公告)号: | CN204116212U | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
| 发明(设计)人: | 王孝芹 | 申请(专利权)人: | 上海山泰柯电子有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司: | 北京连城创新知识产权代理有限公司 11254 | 代理人: | 刘伍堂 |
| 地址: | 200131 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本实用新型涉及质量检测设备领域,具体的说是一种带有升降平台的电路板光学检测设备。包括卡扣,传感器,传送带,图像采集装置,框架,另一框架,其特征是:所述框架左右两端的侧面分别开设有若干孔,所述孔前后排列在框架的左右侧面,孔的底部嵌设有传感器,所述另一框架在与孔相对处开设有阶梯孔,所述阶梯孔的开口宽底部窄,阶梯孔的底部嵌设有弹簧,阶梯孔的开口处嵌设有卡扣,所述卡扣一端呈方块状并嵌设在阶梯孔的开口处,卡扣另一端的上下表面倾斜且露出在阶梯孔外。本实用新型同现有技术相比,电路板光学检测设备无需独立于电路板加工工序中的设备之外,加快了电路板的加工速度,提升了电路板加工效率,并减轻了工人的工作强度。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 带有 升降 平台 电路板 光学 检测 设备 | ||
【主权项】:
一种带有升降平台的电路板光学检测设备,包括卡扣,传感器,传送带,图像采集装置,框架,另一框架,其特征是:所述框架(8)的上方设有传送带(7),位于传送带(7)外的框架(8)上设有检测设备外壳(18),所述检测设备外壳(18)内的顶部设有横梁(9),横梁(9)的前侧面设有丝杆(11),位于丝杆(11)左端的横梁(9)前侧面上设有电机(6),丝杆(11)上设有移动件(10),所述移动件(10)的底部设有图像采集装置(12);所述框架(8)的左右两侧分别设有一个另一框架(4),所述另一框架(4)的上方设有另一传送带(1),另一框架(4)的底部设有另一电机(3),位于另一电机(3)上方的另一框架(4)内设有伸缩杆(2),所述伸缩杆(2)的底部连接另一电机(3),伸缩杆(2)的顶部固定在另一传送带(1)的下方;框架(8)左右两端的侧面分别开设有若干孔(16),所述孔(16)前后排列在框架(8)的左右侧面,孔(16)的底部嵌设有传感器(17),所述另一框架(4)在与孔(16)相对处开设有阶梯孔(13),所述阶梯孔(13)的开口宽底部窄,阶梯孔(13)的底部嵌设有弹簧(15),阶梯孔(13)的开口处嵌设有卡扣(14),所述卡扣(14)一端呈方块状并嵌设在阶梯孔(13)的开口处,卡扣(14)另一端的上下表面倾斜且露出在阶梯孔(13)外。
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