[实用新型]氮化硅薄膜窗口有效
申请号: | 201420467096.8 | 申请日: | 2014-08-19 |
公开(公告)号: | CN204087838U | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
发明(设计)人: | 王晟 | 申请(专利权)人: | 上海纳腾仪器有限公司 |
主分类号: | G21K7/00 | 分类号: | G21K7/00;G01N23/04 |
代理公司: | 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 | 代理人: | 沈履君 |
地址: | 201616 上海市松江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型氮化硅薄膜窗口,包括:衬底,在所述衬底上镀有氮化硅膜;所述氮化硅膜的形状和尺寸与所述衬底的形状和尺寸相同;观测沟槽,多个所述观测沟槽设置在所述衬底上,所述观测沟槽贯穿所述衬底;标记沟槽,所述标记沟槽设置在所述衬底上,所述标记沟槽贯穿所述衬底;其中所述观测沟槽及所述标记沟槽为一倒置的正四棱台空穴结构,底面开口位于所述衬底上部、顶面开口位于所述衬底下部。本实用新型氮化硅薄膜窗口实现了保证软X射线高透过率的同时,也保证了较好的应力。同时可以实现多样品的测量,对比效果更好。 | ||
搜索关键词: | 氮化 薄膜 窗口 | ||
【主权项】:
氮化硅薄膜窗口,其特征在于,包括:衬底,在所述衬底上镀有氮化硅膜;所述氮化硅膜的形状和尺寸与所述衬底的形状和尺寸相同;观测沟槽,多个所述观测沟槽设置在所述衬底上,所述观测沟槽贯穿所述衬底;标记沟槽,所述标记沟槽设置在所述衬底上,所述标记沟槽贯穿所述衬底;其中所述观测沟槽及所述标记沟槽为一倒置的正四棱台空穴结构,底面开口位于所述衬底上部、顶面开口位于所述衬底下部。
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