[实用新型]一种三相交流电相序检测电路有效

专利信息
申请号: 201420411229.X 申请日: 2014-07-24
公开(公告)号: CN204065248U 公开(公告)日: 2014-12-31
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 重庆金佛果电子科技有限公司
主分类号: G01R29/18 分类号: G01R29/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 402660 重庆市*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 实用新型公开了一种三相交流电相序检测电路,包括三相的节点A、节点B及节点C,其还包括集成电路IC1、集成电路IC2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、二极管VD1、二极管VD2、电容C1、电容C2、稳压二极管VS1、稳压二极管VS2、稳压二极管VS2、三极管VT1、三极管VT2及继电器K;本三相交流电相序检测电路方便快速、准确判断出三相相序。
搜索关键词: 一种 三相 交流电 检测 电路
【主权项】:
一种三相交流电相序检测电路,包括三相的节点A、节点B及节点C,其特征在于:还包括集成电路IC1、集成电路IC2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、二极管VD1、二极管VD2、电容C1、电容C2、稳压二极管VS1、稳压二极管VS2、稳压二极管VS2、三极管VT1、三极管VT2及继电器K;所述节点A通过电阻R1与集成电路IC1的CLK1端子相连接,所述集成电路IC1的CLK1端子通过稳压二极管VS1接零点,所述集成电路IC1的D1端子接+12V电源,所述集成电路IC1的S1端子接零点,所述集成电路IC1的输出端子Q1与集成电路IC2的D2端子相连接,所述集成电路IC1的输出端子2与集成电路IC2的CLK2端子相连接,所述集成电路IC2的S2端子接零点,集成电路IC2的13号端子Q2与电阻R6连通,所述电阻R6一路与三极管VT1的基极相导通,一路与电容C2连接,所述电容C2与三极管VT2的发射极相连接,所述三极管VT2的发射极接零点;所述三极管VT2的基极与三极管VT1的发射极相连接,三极管VT1的集电极通过二极管VD2接+12V电源,所述三极管VT2的集电极通过继电器K与+12V电源连接;所述集成电路IC1的R1端子与集成电路IC2的R2端子相连接后与电阻R5相连接,所述电阻R5接零点;所述电阻R5依次通过二极管VD1、电容C1、电阻R3与C节点连接,所述二极管VD1与电容C1分别通过电阻R4接零点,所述电阻R3通过稳压二极管VS3接零点,所述集成电路IC2的CLK2端子通过稳压二极管VS2接零点,所述稳压二极管VS2通过电阻R2与节点B相连接。
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