[实用新型]一种垂直度检测量具有效

专利信息
申请号: 201420377641.4 申请日: 2014-07-09
公开(公告)号: CN204085427U 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 邓洪纲 申请(专利权)人: 重庆四联光电科技有限公司
主分类号: G01B5/245 分类号: G01B5/245
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 敖欢
地址: 400700 重*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 实用新型提供一种垂直度检测量具,包括上表面水平的检测基座,所述检测基座上安装有检测支架,该检测支架上沿竖直方向安装有至少一个千分表,该千分表的测量杆与所述检测基座的上表面平行,所有千分表的测量头位于同一竖直线上,所述检测基座上还安装有基准块,该基准块靠近所述检测支架,所述基准块的一侧开设有用于工件定位的定位基准面,该定位基准面垂直于所述检测基座的上表面,所述千分表的测量头与定位基准面位于同一侧。本实用新型,测量准确,误差小,使用方便灵活,弥补了角度尺、万能角度尺无法得到精确测量角度值和因人为操作带来的测量值误差,改善了三维坐标仪测量角度时间长的不足之处,大大提高了生产效率。
搜索关键词: 一种 垂直 检测 量具
【主权项】:
一种垂直度检测量具,其特征在于:包括上表面水平的检测基座,所述检测基座上安装有检测支架,该检测支架上沿竖直方向安装有至少一个千分表,该千分表的测量杆与所述检测基座的上表面平行,所有千分表的测量头位于同一竖直线上,所述检测基座上还安装有基准块,该基准块靠近所述检测支架,所述基准块的一侧开设有用于工件定位的定位基准面,该定位基准面垂直于所述检测基座的上表面,所述千分表的测量头与定位基准面位于同一侧。
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