[实用新型]全自动光插回损测试仪有效
| 申请号： | 201420158918.4 | 申请日： | 2014-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN203883836U | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 周永军 | 申请（专利权）人： | 镇江奥菲特光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/071 | 分类号： | H04B10/071 |
| 代理公司： | 镇江京科专利商标代理有限公司 32107 | 代理人： | 夏哲华 |
| 地址： | 212132 江苏省镇*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种全自动光插回损测试仪。它包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复用器；波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输，还包括一个能够提供时间基准的钟芯片，钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。采用上述的结构后，一方面，实现了同时测试光纤跳线在1310nm和1550nm两个波长的光学性能；另外一方面，可以将不同端面的反射值区分开，就达到了免于光纤缠绕的目的，其测试方便可靠，即避免了光纤在测试时受伤，又极大地提升产品测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 全自动 光插回损 测试仪 | ||
【主权项】：
一种全自动光插回损测试仪，其特征在于：包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复用器；所述波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，所述光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输，还包括一个能够提供时间基准的钟芯片，钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于镇江奥菲特光电科技有限公司，未经镇江奥菲特光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201420158918.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种可以数据交换的内置POE供电模块
- 下一篇：玻璃纤维匀梳装置
