[实用新型]一种永磁体温度系数开路测量装置有效
| 申请号： | 201420115216.8 | 申请日： | 2014-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN203759233U | 公开（公告）日： | 2014-08-06 |
| 发明（设计）人： | 侯瑞芬;林安利;张志高;范雯;贺建;王京平 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种永磁体温度系数开路测量装置，包括天平支架，天平支架为一箱体，其内底部放置一个台架，台架上放置均匀梯度场发生装置，均匀梯度场发生装置与恒流电源连接，高温炉放置在均匀梯度场发生装置上或穿过均匀梯度场发生装置放置在台架上，高温炉与温控单元连接；天平支架的顶部放置一个分析天平，分析天平与计算机连接，计算机还与温控单元连接，分析天平下端固定一条样品悬挂线，样品悬挂线穿过天平支架的顶面延伸至高温炉内部，样品悬挂线末端连接一个样品套，样品套内放置被测样品；本实用新型有效解决了目前永磁体温度系数测量精度和分辨率低的问题，为航空航天领域的关键材料的测量提供方法和手段。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 永磁体 温度 系数 开路 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种永磁体温度系数开路测量装置，其特征在于，包括天平支架（1）、台架（2）、均匀梯度场发生装置（3）、恒流电源（4）、高温炉（5）、温控单元（6）、分析天平（7）、计算机（8）、样品悬挂线（9）、样品套（10）和被测样品（11）； 所述天平支架（1）为一箱体，其内底部放置一个台架（2），所述台架上放置均匀梯度场发生装置（3），所述均匀梯度场发生装置（3）与恒流电源（4）连接，所述高温炉（5）放置在均匀梯度场发生装置（3）上或穿过均匀梯度场发生装置放置在台架（2）上，所述高温炉（5）与天平支架（1）外的温控单元（6）连接； 所述天平支架（1）的顶部放置一个分析天平（7），所述分析天平（7）通过导线与计算机（8）连接，所述计算机（8）还与温控单元（6）连接，所述分析天平（7）下端固定一条样品悬挂线（9），所述样品悬挂线（9）穿过天平支架（1）的顶面延伸至高温炉（5）内部，所述样品悬挂线（9）末端连接一个样品套（10），所述样品套内放置被测样品（11）。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院，未经中国计量科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201420115216.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电润湿阵列基板及显示装置
- 下一篇：一种地震勘探资料近地表静校正处理方法
