[实用新型]用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的高精度检具有效

专利信息
申请号: 201420049528.3 申请日: 2014-01-25
公开(公告)号: CN203758419U 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 邓瑞祥 申请(专利权)人: 深圳市依诺威电子有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的高精度检具,采用设置有测量杆的高度计作为测量器具,利用设置于基座上的基准面及设置于标准校正块上的校正面实现高度计的精准归零,并利用设置于基座上的工件放置槽及基准面实现待检测工件的精确定位,进而通过高度计获得的待检测工件的内凹台阶高度值,测量结果精准,测量方式简单,可实现机械化快速操作,满足现代化工业生产的需求,且该检具结构简单,制作方法简便,制造成本低。
搜索关键词: 用于 检测 圆柱形 工件 台阶 高度 高精度
【主权项】:
一种用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的高精度检具,其特征在于,包括:基座、固定于所述基座上的高度计,以及与所述基座分体式设置的标准校正块;所述基座对应于所述高度计设置有与待检测工件外表面相吻合以放置待检测工件的工件放置槽,该工件放置槽的延伸方向与所述待检测工件的内凹台阶凹陷方向一致,所述高度计设置有可沿所述工件放置槽延伸方向往返直线移动以与所述内凹台阶的台阶面或所述标准校正块的校正面相抵接或分离的测量杆,所述基座于所述工件放置槽的靠所述高度计一端设置有与所述待检测工件的靠近所述内凹台阶一侧的外端面或所述校正面相抵接的基准面。
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