[实用新型]基于磁光调制的光谱测量装置有效
| 申请号： | 201420001022.5 | 申请日： | 2014-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN203719770U | 公开（公告）日： | 2014-07-16 |
| 发明（设计）人： | 杨涛;许超;周馨慧;黄维;仪明东;李兴鳌;何浩培;刘辉 | 申请（专利权）人： | 南京邮电大学 |
| 主分类号： | G01J3/447 | 分类号： | G01J3/447 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210046 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于磁光调制的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本实用新型光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、磁光调制器件、第二偏振片、光探测器。本实用新型还公开了一种使用上述装置的光谱测量方法，首先测量在不同磁场强度下进行磁光调制时光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合光谱测量装置在不同磁场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合、光谱定标，得到待测入射光的光谱。本实用新型具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 调制 光谱 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种基于磁光调制的光谱测量装置，其特征在于，包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、磁光调制器件、第二偏振片、光探测器。
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