[发明专利]二极管的自动过压测试方法在审
| 申请号： | 201410843862.0 | 申请日： | 2014-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN104502822A | 公开（公告）日： | 2015-04-08 |
| 发明（设计）人： | 诸建周;谈益民 | 申请（专利权）人： | 无锡罗姆半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)32257 | 代理人： | 杨明 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种二极管的自动过压测试方法，属于电子元器件测试领域，包括步骤S1对二极管进行模拟过压，其中，模拟过压时间为1ms～5ms；S2对完成模拟过压后的二极管进行基本参数测试，以判断基本参数是否符合预设值，若符合则判断二极管合格，若不符合则判断二极管已损坏。通过使用本发明二极管的自动过压测试方法，从而使测试更加合理、检测结果更可靠，且有助于减少人工。 | ||
| 搜索关键词： | 二极管 自动 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种二极管的自动过压测试方法，其特征在于：包括步骤：S1：对二极管进行模拟过压，其中，模拟过压时间为1ms～5ms；S2：对完成模拟过压后的二极管进行基本参数测试，以判断基本参数是否符合预设值，若符合则判断二极管合格，若不符合则判断二极管已损坏。
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