[发明专利]一种多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀方法在审
| 申请号: | 201410798519.9 | 申请日: | 2014-12-19 |
| 公开(公告)号: | CN105762226A | 公开(公告)日: | 2016-07-13 |
| 发明(设计)人: | 王帅;刘如彬;孙强;肖志斌;高鹏;张启明;王立功;李慧 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十八研究所 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0352 |
| 代理公司: | 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 | 代理人: | 李凤 |
| 地址: | 300384 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀方法。本发明属于半导体材料技术领域。一种多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀方法,其特点是:多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀过程为:在砷化镓衬底上生长0.8-1.2μm的GaAs缓冲层,180-220nm的GaInP阻挡层,1400-1800nm的AlGaInAs渐变缓冲层;将外延片用光刻胶进行保护,同时露出需要腐蚀测厚的部分;用化学腐蚀液对裸露部分进行腐蚀,化学腐蚀液采用柠檬酸、H2O2和磷酸溶液,腐蚀液温度为20~25℃;腐蚀完毕后,用丙酮溶液除去光刻胶,用无水乙醇及去离子水将外延片清洗干净后,即可测量AlGaInAs渐变缓冲层厚度。本发明具有方法简单,操作方便,安全稳定,重复性好,不腐蚀GaInP阻挡层,可以实现准确测量渐变缓冲层的厚度等优点。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 太阳电池 渐变 缓冲 腐蚀 方法 | ||
【主权项】:
一种多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀方法,其特征是:多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀过程为:在砷化镓衬底上生长0.8‑1.2μm的GaAs缓冲层,180‑220nm的GaInP阻挡层,1400‑1800nm的AlGaInAs渐变缓冲层;将外延片用光刻胶进行保护,同时露出需要腐蚀测厚的部分;用化学腐蚀液对裸露部分进行腐蚀,化学腐蚀液采用柠檬酸、H2O2和磷酸溶液,腐蚀液温度为20~25℃;腐蚀完毕后,用丙酮溶液除去光刻胶,用无水乙醇及去离子水将外延片清洗干净后,即可测量AlGaInAs渐变缓冲层厚度。
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
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