[发明专利]一种多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀方法在审

专利信息
申请号: 201410798519.9 申请日: 2014-12-19
公开(公告)号: CN105762226A 公开(公告)日: 2016-07-13
发明(设计)人: 王帅;刘如彬;孙强;肖志斌;高鹏;张启明;王立功;李慧 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十八研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0352
代理公司: 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 代理人: 李凤
地址: 300384 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀方法。本发明属于半导体材料技术领域。一种多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀方法,其特点是:多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀过程为:在砷化镓衬底上生长0.8-1.2μm的GaAs缓冲层,180-220nm的GaInP阻挡层,1400-1800nm的AlGaInAs渐变缓冲层;将外延片用光刻胶进行保护,同时露出需要腐蚀测厚的部分;用化学腐蚀液对裸露部分进行腐蚀,化学腐蚀液采用柠檬酸、H2O2和磷酸溶液,腐蚀液温度为20~25℃;腐蚀完毕后,用丙酮溶液除去光刻胶,用无水乙醇及去离子水将外延片清洗干净后,即可测量AlGaInAs渐变缓冲层厚度。本发明具有方法简单,操作方便,安全稳定,重复性好,不腐蚀GaInP阻挡层,可以实现准确测量渐变缓冲层的厚度等优点。
搜索关键词: 一种 太阳电池 渐变 缓冲 腐蚀 方法
【主权项】:
一种多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀方法,其特征是:多结太阳电池渐变缓冲层的腐蚀过程为:在砷化镓衬底上生长0.8‑1.2μm的GaAs缓冲层,180‑220nm的GaInP阻挡层,1400‑1800nm的AlGaInAs渐变缓冲层;将外延片用光刻胶进行保护,同时露出需要腐蚀测厚的部分;用化学腐蚀液对裸露部分进行腐蚀,化学腐蚀液采用柠檬酸、H2O2和磷酸溶液,腐蚀液温度为20~25℃;腐蚀完毕后,用丙酮溶液除去光刻胶,用无水乙醇及去离子水将外延片清洗干净后,即可测量AlGaInAs渐变缓冲层厚度。
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