[发明专利]锥形镜锥角测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201410779061.2 申请日: 2015-08-03
公开(公告)号: CN104501743A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 王莹;曾爱军;张运波;顾帅妍;黄惠杰 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯;张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种锥形镜锥角测量装置及测量方法,锥形镜锥角测量装置由光源、聚焦透镜、滤光小孔、分光镜、准直透镜、反射镜、图像传感器、第一调整机构和带有高精密角位移台的第二调整机构组成,本发明具有结构简单、操作方便、不需要标准镜即可实现锥形镜的锥角测量等优点。
搜索关键词: 锥形 镜锥角 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种锥形镜锥角测量装置,特征在于该装置由光源(1)、聚焦透镜(2)、滤光小孔(3)、分光镜(5)、准直透镜(6)、反射镜(9)、图像传感器(4)、第一调整机构(8)和带有高精密角位移台的第二调整机构(10)组成,上述元部件的位置关系如下:沿光源(1)出射光束方向依次是聚焦透镜(2)、滤光小孔(3)、分光镜(5)、准直透镜(6)和反射镜(9);所述的图像传感器(4)位于准直透镜(6)的前焦面,图像传感器(4)与所述的准直透镜(6)共光轴;所述的分光镜(5)位于图像传感器(4)和准直透镜(6)之间;所述的滤光小孔(3)位于所述的聚焦透镜(2)的焦平面,所述的滤光小孔(3)和图像传感器(4)相对于所述的分光镜(5)共轭,在所述的准直透镜(6)与反射镜(9)之间预留有待测锥形镜(7)的位置;该待测锥形镜(7)固定在第一调整机构(8)上,所述的反射镜(9)固定在第二调整机构(10)的精密角位移台上。
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