[发明专利]一种土壤剖面采样结构及其挖掘方法在审

专利信息
申请号: 201410759856.7 申请日: 2014-12-12
公开(公告)号: CN104483155A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 田潇;周运超;陈萍;李会;刘兵;余星;陈婷敬;黄先飞 申请(专利权)人: 贵州大学
主分类号: G01N1/04 分类号: G01N1/04
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 吴无惧
地址: 550025 贵州*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 发明公开了一种土壤剖面采样结构及其挖掘方法,土壤剖面包括呈两级阶梯状分布的方形深坑(1)和方形浅坑(2),所述方形深坑(1)长、宽、深分别为60cm、50cm、100cm,所述方形浅坑(2)长、宽、深分别为60cm、50cm、40cm,方形深坑(1)的一个内侧表面设置为样品采样区(3),方形深坑(1)和方形浅坑(2)外各设置50cm的弃土区。本发明采用T形挖掘头、圆形铲刀头、梯形铲刀头交替配合挖掘方形深坑(1)和方形浅坑(2),剖面空间相对传统方法更小,结构更简单,取样断面垂直,便于修整、观测土壤剖面和取样,并且可以明显降低占地面积,减少损失,减少人力物力财力投入,节约挖掘时间。
搜索关键词: 一种 土壤 剖面 采样 结构 及其 挖掘 方法
【主权项】:
一种土壤剖面采样结构,其特征在于:包括剖面呈两级阶梯状分布的方形深坑(1)和方形浅坑(2),所述方形深坑(1)长、宽、深分别为60cm、50cm、100cm,所述方形浅坑(2)长、宽、深分别为60cm、50cm、40cm,方形深坑(1)的一个内侧表面设置为样品采样区(3),方形深坑(1)和方形浅坑(2)外各设置50cm的弃土区。
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