[发明专利]应用于温度检测及运算的CMOS开关电容采样保持电路

摘要

本发明提供一种应用于温度检测及运算的CMOS开关电容采样保持电路，电路结构主要由温度检测电路、开关采样电路和全差分运放电路三部分构成，温度检测电路提供与温度相关的电压信号，开关采样电路根据采样电容和开关相位关系提供比例运算，全差分运放电路连同开关采样电路完成对温度相关电压信号的采样保持。本发明提供的电路系统结构，利用CMOS的温度特性和采样保持功能，且仅需较小的面积和功耗即可达到稳定温度精度输出的目的，电路结构简单，可广泛应用。

主权项

应用于温度检测及运算的CMOS开关电容采样保持电路，其特征在于：包括带比例运算的采样保持电路和模数转换单元，所述带比例运算的采样保持电路包括正向单元和反向单元，所述正向单元包括开关S0、开关S1、开关S2、开关S3、开关S4、开关S5、开关S6、开关S7、开关S8、开关S9、电容C1、电容C2以及电容C3；开关S4、开关S5和开关S0的一端均连接于A点，开关S4的另一端接基准电压信号VREF，开关S5的另一端接地，开关S0的另一端、开关S1的一端和电容C1的一端连接于B点，开关S1的另一端接地，开关S2、开关S3和电容C2的一端连接于C点，开关S2的另一端接基准电压信号VREF，开关S3的另一端接地，开关S6、开关S7和电容C3的一端连接于D点，开关S6和开关S7的另一端接线性温度电压值(VPTATP，VPTATM)，电容C3的另一端、电容C2的另一端、开关S9的一端和开关S8的一端连接于E点，开关S9的另一端接基准电压信号VREF，开关S8的另一端输出模拟信号VINN；所述反向单元包括开关S10、开关S11、开关S12、开关S13、开关S14、开关S15、开关S16、开关S17、开关S18、开关S19、电容C4、电容C5以及电容C6；开关S10、开关S11和开关S12的一端均连接于F点，开关S10的另一端接基准电压信号VREF，开关S11的另一端接地，开关S12的另一端、开关S13的一端和电容C4的一端连接于G点，开关S13的另一端接地，开关S14、开关S15和电容C5的一端连接于H点，开关S14的另一端接基准电压信号VREF，开关S15的另一端接地，开关S16、开关S17和电容C6的一端连接于I点，开关S16和开关S17的另一端接线性温度电压值(VPTATP，VPTATM)，电容C5的另一端、电容C4的另一端、开关S18的一端和开关S19的一端连接于P点，开关S18的另一端接基准电压信号VREF，开关S19的另一端输出模拟信号VINP；模拟信号VINP和模拟信号VINN作为模数转换单元输入。