[发明专利]物探瞬变电磁系统测量数据精细化处理方法在审

专利信息
申请号: 201410749348.0 申请日: 2014-12-09
公开(公告)号: CN104502987A 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 蔡运胜;李孝红;杨学明;李小永;张进国;胡建勇 申请(专利权)人: 天津华勘地质勘查有限公司
主分类号: G01V3/38 分类号: G01V3/38
代理公司: 天津才智专利商标代理有限公司12108 代理人: 王顕
地址: 300170 *** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种物探瞬变电磁系统测量数据的处理方法,采集一系列不同延迟时间ti的感应二次场值V(ti),得到探测深度Hi以及与Hi对应的电阻率ρi、时间常数τi、电导率Si如下其中,i为正整数,各参数的意义及与单位间的对应关系为,M为发送线框磁矩、M=I·a·b、I为发送电流、a和b为发送线框的边长、M-安培·米2、I-安培、a-米、b-米,q为接收线圈偶极矩、q=N·SR、N为线圈匝数、SR为接收线圈的面积、q-米2、N-无单位、SR-米2,μ0为真空中的磁导率、μ0=4π×10-7亨/米,ρ-欧姆·米、τ-秒、S-西门子、H-米。本发明中的物探瞬变电磁系统测量数据精细化处理方法结果准确、适用范围广。
搜索关键词: 物探 电磁 系统 测量 数据 精细 处理 方法
【主权项】:
一种物探瞬变电磁系统测量数据精细化处理方法,其特征在于,采集一系列不同延迟时间ti的感应二次场值V(ti),得到探测深度Hi以及与Hi对应的电阻率ρi、时间常数τi、电导率Si如下:ρi=μ04πti(2μ0Mq5tiV(ti))2/3]]>τi=ti+1-tiln(V(ti)/V(ti+1))]]>Si=16π1/3(3Mq)1/3μ04/3·V(ti)1/3·τi4/3]]>Hi=(3Mq16πV(ti)Si)1/4-tiμ0Si]]>其中,i为正整数,各参数的意义及与单位间的对应关系为,M为发送线框磁矩、M=I·a·b、I为发送电流、a和b为发送线框的边长、M?安培·米2、I?安培、a?米、b?米,q为接收线圈偶极矩、q=N·SR、N为线圈匝数、SR为接收线圈的面积、q?米2、N?无单位、SR?米2,μ0为真空中的磁导率、μ0=4π×10?7亨/米,ρ?欧姆·米、τ?秒、S?西门子、H?米。
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