[发明专利]一种基于高光谱技术的海冰密度原位测量方法

摘要

本发明公开一种基于高光谱技术的海冰密度原位测量方法，该测量方法步骤如下：1)测量海冰表面反射光谱；2)计算海冰密度光谱指数(1088nm反射峰高度)，计算方法为其中，s海冰密度光谱指数；r为1088nm波段的反射率；为由1028nm波段的反射率和1220nm波段反射率线性插值而得到的插值反射率；3)将海冰密度光谱指数(s)代入海冰密度估算模型：ρ＝a·s+b；其中a和b为拟合系数；最后得到海冰密度。本发明的测量方法具有准确性好，测定速度快，可原位测量，不需要采样到实验室测量的特点。

主权项

一种基于高光谱技术的海冰密度原位测量方法，其特征在于测量步骤如下：1)测量海冰表面反射光谱，光谱范围为1000‑1300nm；2)计算1088nm反射峰高度海冰密度光谱指数，计算方法为:$s=r-\hat{r}---\left(1\right)$其中，s海冰密度光谱指数；r为1088nm波段的反射率；为由1028nm波段的反射率和1220nm波段反射率线性插值而得到的插值反射率；3)将海冰密度光谱指数s代入海冰密度ρ估算模型：ρ＝a·s+b                            (2)其中，a和b为拟合系数；最后得到海冰密度。