[发明专利]检测多孔膜表面孔口直径分布或致密膜表面缺陷的方法有效

专利信息
申请号: 201410741003.0 申请日: 2014-12-08
公开(公告)号: CN105651666B 公开(公告)日: 2018-08-21
发明(设计)人: 李慧;徐恒泳;郑磊 申请(专利权)人: 中国科学院大连化学物理研究所
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 马驰
地址: 116023 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及一种“改进”的液体排除法检测多孔膜表面孔口直径分布或致密膜表面缺陷。与传统液体排除法相比,二者都是利用液体界面张力与孔径之间的关系来测量孔径,传统液体排除法借助于孔喉(孔道最窄处)处开孔压力与孔径之间的对应关系,而本方法则借助的是孔口处开孔压力与孔径之间的对应关系。采用本发明方法来测量多孔膜表面孔口直径分布或致密膜表面缺陷,可应用于科研以及生产过程中的产品检测,该方法既简单有效、准确率高,且装置易于搭建,操作简单。
搜索关键词: 检测 多孔 表面 孔口 直径 分布 致密 缺陷 方法
【主权项】:
1. 检测多孔膜表面孔口直径分布或致密膜表面缺陷的方法,其特征在于: 1)从膜的背面通入液体A,实现液体A对膜浸润,并将渗透到膜正面侧的液体A移走;2)然后在膜正面覆盖与液体A互不相溶的液体B,并从常压起由低到高调节膜背面侧液体A的压力至2‑20bar,膜正面孔口或缺陷将按孔径由大到小的顺序随压力的增大依次被液体A打开,引起液体A透过膜的流量的上升;当膜背面侧液体A压力上升到某一数值C时,流量与压力成正比例关系,表明膜正面孔口或缺陷全部被打开,此压力C即可表征膜正面的最小孔口或缺陷。
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