[发明专利]一种在大直径6H/4H-SiC硅面和碳面双面同时生长石墨烯的方法有效

专利信息
申请号: 201410718225.0 申请日: 2014-12-01
公开(公告)号: CN104404620A 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 陈秀芳;杨志远;孙丽;徐现刚;赵显 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: C30B29/02 分类号: C30B29/02;C30B25/18
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 杨磊
地址: 250100 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种在大直径6H/4H-SiC硅面和碳面双面同时生长石墨烯的方法。该方法包括:将6H/4H-SiC晶片硅面和碳面进行抛光、清洗,将加工好的6H/4H-SiC晶片平放在单晶生长炉坩埚中的石墨托架上,碳面朝下;升温至1200-1300℃,通氩气和氢气,然后升温至1400-1450℃,保温10-15min;关闭氢气,继续通氩气,并通入含硅气体,升温至1500-1600℃,保温10-30min,完成双面石墨烯的生长;继续通氩气,压力控制在800-900mbar,降温至800-900℃;关闭气源。本发明的生长方法使得SiC外表面均覆盖石墨烯,导热性能增加,有利于器件稳定工作;可用于制作传感器或电容器的材料。
搜索关键词: 一种 直径 sic 双面 同时 生长 石墨 方法
【主权项】:
一种在大直径6H/4H‑SiC硅面和碳面双面同时生长石墨烯的方法,包括如下步骤:(1)将直径为2‑4英寸的6H/4H‑SiC晶片硅面和碳面进行抛光、清洗,使表面粗糙度小于0.3nm,不平整度小于15μm,得厚度为300μm‑400μm的6H/4H‑SiC晶片;(2)将步骤(1)加工好的6H/4H‑SiC晶片平放在单晶生长炉坩埚中的石墨托架上,使晶片底部有空隙,碳面朝下;单晶生长炉抽真空度至10‑3Pa,快速升温至1200‑1300℃,升温速率为10‑50℃/min;通入氩气和氢气,流量分别为10‑100sccm和10‑100sccm,压力控制在800‑900mbar,然后缓慢升温至1400‑1450℃,升温速率为0.5‑5℃/min,保温10‑15min;关闭氢气,继续通氩气,并通入含硅气体,流量分别为10‑100sccm,压力控制在800‑900mbar,然后缓慢升温至1500‑1600℃,升温速率为0.5‑5℃/min,保温10‑30min,完成双面石墨烯的生长;(3)生长完成后,继续通氩气,流量为10‑100sccm,压力控制在800‑900mbar,快速降温至800‑900℃,降温速率为100‑200℃/min;关闭气源和单晶生长炉,停止加热,自然降温到室温。
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