[发明专利]一种扫描式金属表面成像及成分分析装置有效

专利信息
申请号: 201410684890.2 申请日: 2014-11-24
公开(公告)号: CN104483337A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 单卿;张新磊;贾文宝 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 齐棠;曹翠珍
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种扫描式金属表面成像及成分分析装置,包括X光管(1)、X荧光探头(2)、准直器(3)、位置灵敏型光电倍增管(4)、探测器封装套(5)、高压控制系统(6)、放大器(7)、信号读出系统(8)、数据处理系统(9)、计算机控制与数据显示系统(10)、步进电机控制系统(11)、远程登陆系统(12)、激光测距仪(13)、步进电机(14)、样品台(15)、屏蔽防护体(16);其利用X光管产生的X射线,与金属表面的核素内壳层电子发生反应产生特征X射线,利用传感器,收集特征X射线的空间和能量信息,对金属表面进行成分分析与成像。本发明不受金属镀层种类影响,可同时实现金属表面成像与元素成分分析。
搜索关键词: 一种 扫描 金属表面 成像 成分 分析 装置
【主权项】:
一种扫描式金属表面成像及成分分析装置,其特征在于,包括X光管(1)、X荧光探头(2)、准直器(3)、位置灵敏型光电倍增管(4)、探测器封装套(5)、高压控制系统(6)、放大器(7)、信号读出系统(8)、数据处理系统(9)、计算机控制与数据显示系统(10)、步进电机控制系统(11)、远程登陆系统(12)、激光测距仪(13)、步进电机(14)、样品台(15)、屏蔽防护体(16);X光管(1)、X荧光探头(2)、准直器(3)、位置灵敏型光电倍增管(4)、探测器封装套(5)、激光测距仪(13)均设置在屏蔽防护体(16)内且位于样品台(15)上方,激光测距仪(13)、X光管(1)、准直器(3)下表面的中心位于同一平面,且三者中心轴相交于样品表面;X荧光探头(2)、位置灵敏型光电倍增管(4)设在准直器(3)和探测器封装套(5)构成的密闭空间内,准直器(3)、X荧光探头(2)、位置灵敏型光电倍增管(4)依次连接;位置灵敏型光电倍增管(4)依次连接放大器(7)、信号读出系统(8)、数据处理系统(9)、计算机控制与数据显示系统(10);激光测距仪(13)连接数据处理系统(9);X光管(1)依次连接高压控制系统(6)、计算机控制与数据显示系统(10);步进电机(14)设置在屏蔽防护体(16)内且连接在样品台(15)下方,步进电机(14)依次连接步进电机控制系统(11)、计算机控制与数据显示系统(10);计算机控制与数据显示系统(10)与远程登陆系统(12)通过电话线或者网线连接。
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