[发明专利]一种EPON系统OLT自动清除无效ONU的方法和OLT在审

专利信息
申请号: 201410631859.2 申请日: 2014-11-11
公开(公告)号: CN104284259A 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 李慧;何金亮;王瑾;郑直 申请(专利权)人: 武汉长光科技有限公司
主分类号: H04Q11/00 分类号: H04Q11/00;H04L12/24
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 胡建平
地址: 430073 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种EPON系统OLT自动清除无效ONU的方法和OLT,该方法包括以下步骤:对EPON系统的局端PON端口下所挂的ONU预先设定自动解注册阈值;OLT判断ONU的离线时间是否达到自动解注册阈值,如果达到,OLT对该已注册授权的ONU执行ONU解注册操作。本发明EPON系统OLT自动清除无效ONU的方法和OLT具有自动扫描检测机制,对于在规定的一段时间内没有使用的ONU进行自动解注册操作,释放被占用ONUID,从而让新的ONU可以注册上线使用;不需要人工定期检查清理无效终端ONU,可以节约人力成本,同时提高PON端口利用率。
搜索关键词: 一种 epon 系统 olt 自动 清除 无效 onu 方法
【主权项】:
 一种EPON系统OLT自动清除无效ONU的方法,其特征在于,包括以下步骤:对EPON系统的局端PON端口下所挂的ONU预先设定自动解注册阈值;OLT判断ONU的离线时间是否达到自动解注册阈值,如果达到,OLT对该已注册授权的ONU执行ONU解注册操作。
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